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振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)的掃頻試驗(yàn)是相對(duì)于固定頻率試驗(yàn)的。它們都是振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)的振動(dòng)測(cè)試方法。掃頻測(cè)試是通過(guò)掃頻找到測(cè)試樣品的諧振頻率，廣泛應(yīng)用于電路板和印刷電路板的振動(dòng)臺(tái)虛擬焊接。接下來(lái)，上海石寶工程師將向您介紹振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)的掃頻試驗(yàn)。

掃描測(cè)試分為對(duì)數(shù)掃描和線性掃描在對(duì)數(shù)掃頻中，低頻掃描速度慢，高頻掃描速度快。對(duì)數(shù)掃描頻率的速度單位為Otc/min。FH通常用于表示上限頻率，HL用于表示下限頻率Fh/fl = 2n，n表示n個(gè)八度音程從下限頻率傳遞到上限頻率對(duì)數(shù)掃描中掃描兩個(gè)八度音程的時(shí)間是相同的。例如，從10HZ到20HZ的時(shí)間與從50HZ到100HZ的時(shí)間相同

線性掃頻意味著掃頻速度在任何單位時(shí)間內(nèi)都相同，例如，從10HZ到15HZ的時(shí)間與從20HZ到25HZ的時(shí)間相同。

掃頻測(cè)試的復(fù)用功能，尤其是對(duì)數(shù)掃頻，可以反映大多數(shù)機(jī)械和電子系統(tǒng)的特性，通過(guò)掃頻可以很容易地找到測(cè)試樣品的諧振頻率。一方面，它可以使我們?cè)诋a(chǎn)品生產(chǎn)中避免產(chǎn)品的共振頻率，從而減少產(chǎn)品在使用中遭受的損壞。另一方面，通過(guò)共振頻率，可以快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的缺陷和不足，有利于改進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)，提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性。

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